LV MICRO/VI 편광형 현미 분광 SYSTEM (미소한 Spot의 Reterdation측정)
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작성자 관리자 댓글 0건 조회 2,043회 작성일 13-09-12 15:43본문
미소한 Spot의 Retardation 측정이 가능 합니다.
계측 Retardation값 = 약 1nm 이상, Spot Size = 최소 2μm
Retardation, 타원율, 투과율, Stokes Parameter, 편광도 등을
파장마다 Graph로 표시가 가능합니다.
반사 측정의Retardation도 가능합니다.
■ 특 징
1. 편광자, 검광자, 보상자, 투입 회전은 자동으로 수행함.
2. 1nm 정도의 Retardation부터 측정 가능함.
3. 측정 위치, 측정 영역을 확인하면서 측정 할 수 있음.
4. 투과율 (ε, θ), 투과율비, 타원율, Stokes Parameter, 편광도 등을 파장마다
Graph로 표시가능함.
5. 고속 측정, 고감도 검출기에 의해 지금까지의 10 배의 고속을 실현.
6. 외부 동기화, 외부 트리거 출력 등에 의한 동기화 측정이 가능함.
7. 편광판 복굴절 시료의 Retardation 각도도 측정 가능함.
8. 옵션으로 CCD 카메라와 간섭 필터의조합에 의한 2 차원 Retardation측정도
가능함.
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